The disturbance between the bus signals of PCI control card exists on test system of phase change memory,which results in the distortion of the pulse signal used to work on device unit on phase change memory.

相變存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)由于PCI控制卡中的總線信號(hào)之間的串?dāng)_,嚴(yán)重影響了施加在器件單元上的波形;以保證對(duì)C-RAM(Chalcogenide-Random Access Memory)進(jìn)行非晶化操作時(shí)脈沖信號(hào)下降沿的速度和整個(gè)信號(hào)的完整性,針對(duì)以上問題分別從串口與單片機(jī)通信控制繼電器和利用PCI控制卡控制繼電器兩個(gè)方面提出了解決方案,并進(jìn)行了相應(yīng)的硬件電路和軟件設(shè)計(jì);結(jié)果發(fā)現(xiàn)非晶化操作時(shí)脈沖信號(hào)下降速度加快,并且消除了信號(hào)的失真;改善后的測(cè)試系統(tǒng)對(duì)器件一致性的參數(shù)的提取發(fā)揮了重要作用,為芯片的電路設(shè)計(jì)奠定了基礎(chǔ)。

A 12 bit, 105MSps A/D Card, which implements PCI master capability, and with 256K RAM, is designed in this paper.

文章設(shè)計(jì)了一種采用PCI主控模式(Master)進(jìn)行高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)?2位分辨率,最高采樣率105MSps、256K卡上緩存的PC機(jī)用數(shù)據(jù)采集卡。